產(chǎn)品名稱：超聲波高精度測(cè)厚儀

35系列

Panametrics-NDT 系列35超聲波高精度測(cè)厚儀在難以或是不可能進(jìn)入測(cè)試材料另一側(cè)的應(yīng)用場合能提供使用簡單并且經(jīng)濟(jì)的解決方案。這些結(jié)實(shí)耐用的袖珍型儀器能對(duì)大多數(shù)外形和大小不一的材料做穩(wěn)定、重復(fù)的厚度測(cè)量。**的厚度測(cè)量值以大數(shù)字形式顯示在LCD顯示屏上，或者在選項(xiàng)A－SCAN模式下伴隨著實(shí)時(shí)波形一起顯示。

美國泛美35/35DL超聲波測(cè)厚儀新功能：

• 實(shí)時(shí)A-SCAN（波形）和調(diào)節(jié)模式（選項(xiàng)）
• B-掃描
• DB 柵格顯示

35系列功能

• 對(duì)所有的型號(hào)，聲速和減薄率測(cè)量是正常模式
• 從0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度測(cè)量范圍，取決于儀器和材料
• 使用直接接觸式、延遲式和水浸式探頭
• 具有默認(rèn)設(shè)置和用戶自定義設(shè)置應(yīng)用自動(dòng)－調(diào)用功能
• 手持式，重量僅8.5oz.（0.24kg）
• *小/*大值模式
• 高－低報(bào)警
• 英制和公制單位顯示（英寸/毫米）
• 多種語言用戶界面
• 長的電池壽命

35和35DL

35和35DL用于大多數(shù)的應(yīng)用中

35和35DL可使用的探頭范圍從2.25到30MHz，這意味著這些多功能型儀器可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測(cè)量應(yīng)用。一般而言，高頻小直徑的探頭用于較薄或者曲面工件的測(cè)量，并且能提高測(cè)量的精度

美國泛美35/35DL超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用

• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
• 薄至0.10mm（或0.004英寸）的金屬容器、鋼圈、機(jī)械加工零件
• 氣缸內(nèi)孔，渦輪葉片
• 玻璃燈泡，瓶子
• 薄的纖維玻璃，橡膠，陶瓷和復(fù)合材料
• 小半徑曲面和容器
• 分辨率高達(dá)0.001mm或0.0001

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